NAGASEグループ ナガセテクノエンジニアリング株式会社が開発・販売するフィルム検査装置SCANTEC、ELEMENTSⅡ

光学条件による欠陥検出例

キズ検出例

特殊照明による縦キズ検出

フィルムに発生するキズの検出では、方向性により検出難度が異なります。
薄いキズを検出する方法としては、散乱する光を受光する方法が有効です。
この方法では、搬送方向に対して横方向に発生するキズの検出は容易ですが、搬送方向に発生するキズの検出は難しいです。

縦キズ検出の為に、カメラ照明を斜めに設置することで縦キズを検出する方法が用いられてきました。

カメラ照明を斜めに
この方法の問題点
・設置エリアを大きく取る必要があります
・欠陥発生位置情報の補正が必要です。
カメラのオーバーラップ
この方法の問題点
・カメラのオーバーラップ調整が難しくなります。
・欠陥発生位置情報の補正が必要
・照明を複数必要になることのコストUP

*縦キズ検出用特殊照明
通常の照明設置方法でも縦キズ検出が可能な照明であり、斜め設置よりも高い検出能力を達成しています。

通常の照明方法による検出
通常の照明方法による検出
通常の照明方法による検出
斜め設置による検出
斜め設置による検出
斜め設置による検出
特殊照明による検出
特殊照明による検出
特殊照明による検出
電話03-3665-3253